高速テレセントリック測定システム

Keyenceは、インライン検査で精度と速度のために設計された次世代の通信中心の測定システムであるKeyence TM-X5000シリーズを導入しました。多様なアプリケーション全体で比類のない精度を保証します。二重の通信中心の光学システムを搭載し、材料の種類やターゲットのアラインメントに関係なく、シルエットベースの画像を並外れた明確でキャプチャします。このユニークな構成により、フォーカス関連のエラーが排除され、歪みのないイメージングが提供され、可動部品でも信頼できる測定が確保されます。高強度の緑色のLED照明により、25 µsという短い露出時間が可能になり、画像のぼやけのない高速パスターゲットの正確な検査が可能になります。

汎用性のために設計されたこのシリーズは、外径、幅、高さ、半径、GD＆T、欠陥検査を含む最大100の同時測定をサポートしています。バリ、チップ、外来粒子、さらには微妙な表面上の欠陥を検出し、自動車、電子機器、医療、産業用途に最適です。システムの光軸アラインメント関数にはインストールが簡単で、コンパクトセンサーヘッドはオプションのミラーを使用してタイトなスペースに適応できます。柔軟な取り付けオプション（ベースまたはベースフリー）では、TM-X5000を既存のラインに統合することはシンプルで邪魔になりません。

重要な機能は次のとおりです。

より大きなターゲットまたは複数のターゲットを検査するために、最大120 mmまでの超幅の視野視野
超高速測定では、±0.03 µmという低い業界をリードする再現性
高速で高精度のインライン検査アプリケーションに最適です
多種多様な材料とターゲットサイズで一貫した結果を保証します
TM-X5000シリーズの主要なモデルには、コンパクトな6 mm範囲内の超高精度測定用に設計されたTM-X5006が含まれます。TM-X5040は標準モデルとして機能し、ほとんどの一般的なアプリケーションに適した汎用性の高い40 mm測定範囲を提供します。大規模なコンポーネントの場合、TM-X5065は幅広の視野幅を提供しますが、TM-X5120は超幅の120 mmの範囲で最大のカバレッジを提供し、大規模または複数のターゲットを同時に検査するのに最適です。

すべてのモデルは、追跡可能な測定のために事前に調整および認定されており、セットアップ時間を最小限に抑え、手動キャリブレーションの必要性を排除します。このシステムは、産業環境でIP64定格であり、レシピの切り替え、欠陥分析、リアルタイムトレンドモニタリングのための直感的なソフトウェアツールが含まれています。

シャフトの直径、リードフレーム、または透明な材料を検査するかどうかにかかわらず、TM-X5000シリーズは、信頼性の高い高速、高解像度の測定を提供します。