半導体テスト用のPXI Expressプラットフォーム

半導体テストがより複雑になるにつれて、PXI Expressプラットフォームは測定チャネルとシステムアーキテクチャの両方のレベルで変化をもたらす可能性があります。

ADLINK Technology は、半導体および電子テストおよび測定アプリケーションを目的とした 2 つの新しい PXI Express プラットフォーム、PXIe 9908 ソース測定ユニットと PXES 2596 シャーシを導入しました。これらの追加により、高精度の電気的特性評価と、検証から大量生産までのスケーラブルなシステム アーキテクチャをサポートすることを目的としたオプションにより、同社の PXI ポートフォリオが拡張されます。

システムレベルでは、このシャーシは Gen3 バックプレーン上に構築された 9 スロットまたは 12 スロットの PXI Express プラットフォームを提供し、マルチモジュールおよび同期テスト構成に対して最大 16 GB/秒の帯域幅を提供します。バックプレーンのみのバージョンも利用可能で、事前に取り付けられたヒートシンク、オンボード熱センサー、およびカスタム機械設計への統合を容易にするファン曲線サポートが組み込まれています。構成の柔軟性は、カスタマイズされた展開を必要とする ODM およびシステム インテグレータ向けに提供されます。

測定レベルでは、測定システムは、デバイスの特性評価、IC テスト、および信頼性検証における電圧および電流の供給および測定用に設計された 8 チャネル、4 象限の SMU です。最大 100 kS/秒の更新レートと最大 1 MS/秒のサンプリング レートをサポートします。この仕様により、高度な半導体および低電力エレクトロニクスのテストで一般的に必要とされる、低レベル信号に対する感度を維持しながら、広範囲の測定が可能になります。

これらのプラットフォームは、高速測定機能とスケーラブルなシャーシ アーキテクチャを組み合わせて、半導体、エレクトロニクス、オプトエレクトロニクスのアプリケーションにわたる、モジュール式で同期された生産準備の整ったテスト環境の要件に対応します。

「最新の自動テスト システムには、測定レベルの精度とシステム レベルの拡張性の両方が必要です」と ADLINK Technology の製品部門シニア マネージャー、Andy Tseng 氏は述べています。「PXIe 9908 と PXES 2596 により、お客様は検証から大量生産まで効率的に拡張できる柔軟な PXI プラットフォームを構築できるようになります。」